1. FIB 장치로는 유래가 없는 저렴한 가격으로 여러 기능을 제공합니다.
2. 전자디바이스·금속재료·유기재료·박막·세라믹스·다이아몬드 등 고경도 재료로부터 부드러운 재료
　 복합 재료에 이르기까지 여러 재질의 샘플가공에 대응 가능합니다.
3. 기계연마 등 다른 시료제작에서는 얻을 수 없는 특정위치에 단면가공이 가능합니다. 이물·석출물 등
　 특정위치의 물질 해석이 가능합니다.
4. 고성능 FIB Column탑재로 깨끗하고 밝은 관찰상, FIB만이 가능한 Channeling Contrast를 살린 관찰상 등을
　얻을 수 있습니다. 통상의 단면 관찰은 물론 각종 재료의 Grain 평가나 접합계면 평가에 위력을 발휘합니다
5. 벡터스캔 모드를 표준으로 준비하여 마이크로 나노 단위 미세가공이 가능합니다. 미세 패턴 가공이나 미세
   금형 가공등을 실시할 수 있습니다.
6. 심플한 장치구성으로 설치 장소 등의 제한이 적어졌습니다.
7. 직감적인 조작 Easy Navigation기능 탑재에 의해 초보자도 쉽고 간단하게 조작 할 수 있습니다.
8. 가스 공급 시스템(옵션)에 의해 Deposition 가공이 가능합니다.